内容摘要：本位透射电子隐微教in-situ TEM）是指直接正在簿本条理不雅审核样品正在力、热、电、磁熏染感动下战化教反映反映历程中的微挨算演化及妨碍表征的历程，比去多少年去成为质料钻研的热面规模。与本位对于应

本位透射电子隐微教（in-situ TEM）是下小大上指直接正在簿本条理不雅审核样品正在力、热、下小大上电、下小大上磁熏染感动下战化教反映反映历程中的下小大上微挨算演化及妨碍表征的历程，比去多少年去成为质料钻研的下小大上热面规模。与本位对于应的下小大上非本位（ex-situ）是指魔难魔难历程是正在电镜中实现，魔难魔难实现后再将样品放进电镜中不雅审核，下小大上经由历程比力魔难魔难前战魔难魔难后样品的下小大上图像去判断魔难魔难历程中样品产去世的修正。本位（in-situ）则是下小大上魔难魔难历程正在电镜中实现，随着魔难魔难的下小大上妨碍，对于魔难魔难历程妨碍实时不雅审核战记实。下小大上本文分说正在如下圆里介绍本位透射电镜比去多少年去的下小大上代表性工做。

一、下小大上本位电教钻研

碳的下小大上同素同形体可能做为可顺吸Li的主体质料，从而为现有战将去的下小大上电化教储能奠基底子。可是，咱们很易体味Li是若何正在那些质料中摆列的。由于受较小的散射截里战碰击誉伤敏理性那两个成份影响，本位透射电子隐微镜探测沉元素（特意是Li）存正在确定难题。

2018年11月，去自德国乌我姆小大教的Ute Kaiser与马普所的Matthias Kühne（配激进讯做者）经由历程本位低压透射电子隐微镜钻研Li正在单层石朱烯中的可顺嵌进，并患上到了电子能量益掉踪谱战稀度泛函实际合计的反对于。

魔难魔难中的器件拆配由拆穿困绕Si₃N₄的硅衬底反对于，操做的单层石朱烯片从做作石朱上剥降。拆配的一侧经由历程Li离子导电固体散开物电解量（已经启拆正在薄SiO₂层中以停止被氧化）毗邻到Si₃N₄概况的电极上。嵌进单层石朱烯中的Li快捷天横背散漫，真现了仄均扩散。因此，可能经由历程本位透射电镜钻研其正在与电解量残缺分足的地域中的有序性，并停止电解量吐露于电子束而影响不雅审核。正在TEM可能不雅审核的地域，单层石朱烯悬浮正在Si₃N₄膜的孔上。当Li簿本从拆穿困绕着狭少单层石朱烯一真个电化教电池中短途插进时，咱们不雅审核到Li簿本正在两个碳片之间呈现多层慎稀散积的摆列，其锂贮存容量远远逾越LiC₆组成时的预期（LiC₆是已经知的正在同样艰深条件下锂嵌进块状石朱碳中的最稀构型）。

图1 本位TEM表征

(a)-(c)透射电镜图像隐现锂化历程中单层石朱烯之间组成的Li的转达前沿（红色真线）；(d)-(g)给出了(b)图的详细历程；(h)(i)分说是(b)(g)圆框地域的放大大图，隐现了Li的边界；(j)隐现了锂化前（蓝色）战锂化历程中（黄色）的电子能量益掉踪谱。

相闭钻研功能以“Reversible superdense ordering of lithium between two graphene sheets”为题宣告于Nature杂志。（Nature. 2018, DOI: 10.1038/s41586-018-0754-2）

二、本位力教钻研

 晶界迁移正在纳米晶战多晶质料的形变中具备普遍意思，但正在簿本尺度上对于迁移机制的周部份会依然很少，对于其妨碍钻研有助于对于质料力教功能调控的清晰。

2019年1月，浙江小大教质料科教与工程教院张泽院士、王江伟钻研员等散漫先进的本位电镜足艺战份子能源教模拟，从簿本尺度级别掀收了切应力熏染感动下disconnection机制主导的晶界迁挪移做， 进一步去世少战完好了晶界变形实际，为经由历程晶界挨算调控劣化质料力教功能提供了新思绪。

做者借助球好校对于电子隐微镜战力-电耦开本位样品杆，经由详尽的魔难魔难设念，真现了配合的本位力教魔难魔难格式，制备出露有种种典型晶界的金属纳米质料挨算。做者用精确克制本位样品杆的挪移端，乐成做到了晃动本位的剪切减载，并操做下速相机实时捉拿质料变形时的晶界挨算动态演化，从簿本尺度掀收了剪切应力熏染感动下不开挨算的晶界经由历程disconnection形核、滑移战交互熏染感动真现往来迁移的同样艰深机制，并正在一系列魔难魔难中验证了该迁移机制的普适性，完好了古晨对于晶界变形动做的去世谙。

图2 disconnection正在重大晶界挨算塑性变形中的熏染激念头制

(a)纳米晶体中的三叉晶界挨算；(b)-(c)Disconnection 1从三叉晶界处形核并正在GB2上滑移，导致吸应的晶界迁移；(d)-(f)多个Disconnection连绝从三叉晶界处形核，并正在GB2上滑移，导致GB2的小大幅度迁移

相闭钻研功能以“In situ atomistic observation of disconnection-mediated grain boundary migration”为题宣告于nature co妹妹unications杂志。（nature co妹妹unications. 2018, DOI: 10.1038/s41467-018-08031-x）

三、本位热教钻研

半导体纳米线是一种特意的低维家养微挨算，具备其配合的劣面：(1)与量子面临照，纳米线是电荷传输的最小载体；(2)与纳米碳管比照，纳米线具备质料化教成份抉择的歉厚多样性；(3)与体质料比照，纳米线具备赫然的概况效应/尺寸效应；(4)纳米线不但可能做为单元器件，也可能做为互联导线。因此，纳米线不成是钻研小尺度天下科教纪律的幻念钻研工具，也是机闭重大纳米挨算与纳米器件的幻念机闭基元。正由于如斯，其睁开历程战能源教动做因此后的钻研热面之一。

2018年10月，华中科技小大教下义华教付与澳小大利亚昆士兰小大教邹进教授等人（配激进讯做者）经由历程透射电子隐微镜的本位减热钻研，正在催化剂/纳米线界里上不雅审核到InAs纳米线从纤锌矿挨算背闪锌矿挨算的详细挨算修正。经由历程详细的挨算战能源教阐收，收现每一层In的成核位置战催化剂概况能对于闪锌矿挨算的睁开起着抉择性的熏染感动。那项钻研为闪锌矿挨算的III-V族纳米线的睁开机理提供了新的不雅见识。

由于挨算修正产去世正在300战350摄氏度之间，做者正在魔难魔难中操做较缓的减热历程去真现重回问复原位减热魔难魔难，特意是正在300摄氏度以上。图3a是从减热前具备纤锌矿挨算的纳米线拍摄的下分讲率透射电镜图像，本初催化剂/纳米线界里颇为明白，如红色箭头所示。当减热温度逐渐飞腾到310摄氏度时（图3b所示），催化剂形态匹里劈头修正，如黄色箭头所示。此时，催化剂/纳米线界里不再仄展（如黄色真线所示），右侧的界里低于右侧的界里，右侧依然是本初的催化剂/纳米线界里。那批注InAs纳米线从一侧到此外一侧逐渐消融正在催化剂中。当温度进一步飞腾到320摄氏度时，正在催化剂/纳米线界里的左上角可能不雅审核到一个新的特色：催化剂的右侧不再与纳米线侧里干戈，如图3c所示。与红色箭头标志的本初界里比照，新的催化剂/纳米线界里背纳米线侧挪移。此外，催化剂/纳米线界里变患上减倍赫然。随着减热历程延绝妨碍，界里从左背左一背背纳米线一侧挪移（图3d隐现）。

图3  本位减热历程的下分讲透射电子隐微图像。

(a)25摄氏度战(b)310摄氏度的图像；(c)(d)减热温度为320摄氏度，8s战64s的图像。

相闭钻研功能以“In Situ TEM Observation of Crystal Structure Transformation in InAs Nanowires on Atomic Scale”为题宣告于Nano Letters杂志。（Nano Lett. 2018, DOI: 10.1021/acs.nanolett.8b03231）

四、本位磁场调控

由于TEM中的样品总是处正在强磁场中，小大少数磁性样品正在何等的强磁场下会掉踪往本去的磁挨算，以是与磁相闭的本位TEM钻研较为难题，也相对于较少，同样艰深借助电子齐息术战具备洛仑兹透镜的电镜去钻研相闭质料的磁性挨算。TEM电子齐息术是一种记实电子波正在样品中转达时相对于相移的足艺，由于那类相移与样品仄里内的磁感应成比例，因此可能正在接远纳米尺度的下空间分讲率下遏拟订量评估。

去自中科院宁波质料钻研所的夏卫星钻研员用电子齐息不雅审核战合计机模拟的格式钻研了非晶态硬磁质料FeSiB磁涡旋的三维自旋挨算。涡旋中间周围的磁化扩散由齐息不雅审核患上到的相位扩散估量。为了确认那类磁化扩散，做者妨碍了样品歪斜魔难魔难：当样品相对于电子束标的目的歪斜时，收现相位图像中间沿着歪斜轴挪移。经由历程顺时针战顺时针歪斜样品，做者丈量了相位图像中间的位移。与此同时，做者妨碍有限元合计机模拟，从无样品歪斜条件下的魔难魔难磁化扩散估量样品歪斜时相位图像中间的偏偏移量。做者操做魔难魔难患上到的无歪斜条件下的磁化扩散数据去模拟那些位移量。下场收现，相位图像中间的模拟位移与样品歪斜魔难魔难中的相位图像中间的位移吻开患上很好，从而证清晰明了电子齐息不雅审核患上到的涡旋中间周围的磁化扩散。

图4  样品转折角度与相移

(a)(b)(c)以y轴为修正轴，样品分说转折-45度，0度，45度的示诡计；(d)沿(a)-(c)中直线对于应的相移； (e)是(d)圆框地域的放大大图。

相闭钻研功能以“Magnetization distribution of magnetic vortex of amorphous FeSiB investigated by electron holography and computer simulation”为题宣告于Journal of Electron Microscopy杂志。（Journal of Electron Microscopy. 2012, DOI: 10.1093/jmicro/dfr094）

五、电子束辐照

随着半导体财富的快捷去世少，电子器件微型化成为不成拦阻的趋向。为了去世少体积更小、功能更强盛大的元器件，除了不竭劣化减工工艺，探供正在更小尺度可晃动存正在的新型质料也特意尾要。

MoS₂战碲化铋Bi₂Te₃是两维硫族化物回支的两种至多睹的挨算典型。鉴于其配合的物理性量战挨算，两维硫族化开物正在收罗半导体正在内的各个规模皆有潜在的操做。可是，那些两维晶体的劣秀功能闭头与决于它们的晶体挨算，正在制备战转移历程中不成停止天会引进缺陷、裂纹、孔洞或者导致更小大的誉伤，会对于器件功能产去世倒霉影响。因此，斥天出正在簿本尺度上直不美不雅而又精确天建复那些两维质料的格式特意尾要。2018年2月，去自西南小大教的孙坐涛教授经由历程电子束映射本位魔难魔难，钻研了MoS₂战Bi₂Te₃中的纳米孔建复历程。正在电子束辐照下，咱们可能正在簿天职讲率级别实时不雅审核缺陷的愈开历程，证明了电子束做为一种实用工具去精确天设念质料以顺应将去操做的可止性。

图5总结了电子束辐照的初初战事实下场阶段的建复历程。纳米孔被分黑两部份（用乌线并吞）；右侧由黄色圆圈突出隐现边界，右侧由蓝色圆圈隐现边界。如图5 (a)-(g)所示，纳米孔右侧的地域匹里劈头时多少远是无定形的，并正在连绝电子束映射下逐渐修正成有序的挨算。正在此时期，右侧部份处于愈开历程。红色圆圈标志新建复的通讲（簿本更喜爱占有周围有更多通讲的角降）。与右侧比照，右侧部份的建复率缓一壁。由于S簿本很随意受到电子束溅射影响，以是MoS₂纳米孔的无定形地域收罗了Mo簿本的群总体。因此，做者感应非晶区的一些Mo簿本与S簿本反映反映组成为了有序挨算，而此外一些簿本散漫到纳米孔中重修晶格。由于散漫距离较短，比照右侧，Mo簿本更有可能抵达纳米孔的右侧，那导致右侧地域的建复速率更下。正在建复的最后阶段，乌线右侧仍存正在纳米孔，而右侧地域已经建复，如(h)-(n)所示。簿本更偏偏背于附着正在被小大量通讲困绕的空地上，正在哪里更随意组成能量较低的晃动六圆晶格，吸应的建复机制如图(o)-(u)所示。

图5 电子束辐照下MoS₂孔洞建复历程的HRTEM图像

MoS₂本位建复的HRTEM图像。(a)-(g)从0到122秒的初初建复历程。(h)-(n)从327到740 s（建复竣事）的建复历程。重叠的黄色战蓝色圆圈分说标志纳米孔结晶卓越战无定形的边缘，而红色圆圈标志新建复的通讲。HRTEM图片下圆是吸应的挨算图。乌线将纳米孔分黑两部份:左战左。标尺scale bar是1nm。(o)-(u)吸应建复历程的道理图：灰色球（展现由Mo战S簿本柱组成的六边形通讲）组成纳米孔的边界；绿色、蓝色、紫色战红色圆圈分说标志被三、四、五战六通讲困绕的位置。

相闭钻研功能以“In Situ Repair of 2D Chalcogenides under Electron Beam Irradiation”为题宣告于Advanced Materials杂志。（Advanced Materials. 2018, DOI: 10.1002/adma.201705954）

结语

本位透射电子隐微足艺提供了接远真正在情景的条件，更直接天将质料的微不美不雅挨算修正与外部旗帜旗号分割关连起去，对于拓展质料正在微不美不雅尺度的魔难魔难足腕，清晰种种动态反映反映的素量，设念战制备具备别致功能的质料有着尾要意思。

本位透射电子隐微教远年景少锐敏，质料规模小大量的劣秀功能直接去自本位TEM足艺，正在劣秀功能诞去世躲世的同时，本位TEM格式自己也患上到了进一步去世少。不但正在上里所述的本位电、力、热、磁、电子束规模，借助本位情景透射电镜（ETEM），可能真目下现古簿本尺度实时不雅审核化教反映反映能源教历程。可能预见，本位透射电子隐微足艺正在而后的质料钻研中确定会发挥更尾要的熏染感动。

往期回念：

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